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2025.12.17 - 2025.12.19

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【理工学部】SEMICON Japan 2025 (出展団体：理工学部 電気電子工学科 黄研究室・春山研究室・横式研究室)

2025年12月17日（水）～19日（金）、東京ビッグサイトで開催されるSEMICON Japan 2025に、
理工学部 電気電子工学科から黄研究室・春山研究室・横式研究室の3研究室が出展します。

黄研究室（黄晋二教授）

「グラフェンを用いた新規フレキシブル透明導電膜の開発と応用」
（小間番号：E6818）

黄研究室では、グラフェンやカーボンナノチューブ（CNT）などのナノカーボン材料のデバイス応用について研究を進めています。
グラフェンのCVD成長技術、剥離グラフェンやCNTを分散させた導電性インクの調製技術、インク印刷を用いたフレキシブル導電性薄膜の作製技術、及び、これらのデバイス応用として、透明アンテナ、電波吸収体、化学センサなどの研究開発に取り組んでいます。
本展示会のブースでは実際に作製した透明アンテナやフレキシブル導電性薄膜を展示しますので、是非ご覧ください。

▶黄研究室ウェブサイト

春山研究室（春山純志教授）

「原子層半導体の欠陥物性研究、そのAI機械学習予測と次世代素子応用」
（小間番号：E6860）

現在、人工知能（AI）の機械・深層学習を用いた各種分野の研究開発が極めて盛んです。
本展示会では、当研究室で行っている、スコッチテープによるバルク結晶の機械剥離で創製する僅か原子数個の薄さで面積0.1mm^2以下と極小の二次元半導体破片の画像認識と物性予測を、機械・深層学習を活用して精密実現した結果を発表します。学習に使用した実際の原子層半導体破片・チップ写真、その実物も展示します。
画像認識では、異なる上記微小半導体破片を複数積層した構造を精密識別できる新たな機械・深層学習手法を発表します。
また、半導体破片は必ず点欠陥を持ち多様な物性が産まれますが、その欠陥物性（電子を放出するエネルギー、放出・捕獲確率など）を室温で低周波ノイズや基礎電流特性を測るだけで精密予測することに成功した結果を発表します。これらは日本のあらゆる次世代高効率半導体素子の研究開発にとって強い武器になり得るものです。

▶春山研究室ウェブサイト

横式研究室（横式康史准教授）

「間欠駆動型回路及びその応用」
（小間番号：E6877）

横式研究室では間欠駆動、IoT、センシングをキーワードに研究を行っています。トランジスタレベルでの回路設計から市販品を使ったシステム構築まで行い、基礎だけでなく応用も見据えた研究を進めています。
現在行っている研究の紹介及び、下記研究に関する展示を行いますので、ぜひご覧ください。
・数mm角で間欠駆動する超小型センシングデバイス（展示は間欠駆動型CPUのデモ）
・ペロブスカイト太陽電池による間欠駆動のデモ
・新型熱電発電素子を用いた間欠駆動のデモ

▶横式研究室ウェブサイト

開催概要
イベント名
 SEMICON Japan 2025
会期 2025年12月17日（水）～19日（金）
場所 東京ビッグサイト
参加方法 事前登録制

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